EL X-02C Ellipsometer este un instrument optic care măsoară cu precizie şi acurateţe schimbarea polarizării luminii laser după reflexia de pe o suprafaţă.

Procedura se evidenţiază prin faptul că radiaţia de înaltă energie nu distruge suprafeţele ce se măsoară, încât nu sunt necesare măsuri de protejare sau contra contaminării probelor.

EL X-02C Ellipsometer este în special util pentru măsurători la submonostraturi. Submonostraturile sunt fie monostraturi atomice sau moleculare, care nu acoperă total suprafaţa.

Sensibilitatea EL X-02C Ellipsometer este plasată într-un domeniu în care sunt măsurate un număr mic de molecule care acoperă o suprafaţă.

EL X-02C Ellipsometer este eficient în tehnica A.N.D.R.E.A. ca metodă nouă de analiză directă a reacţiilor moleculare. Astfel, se măsoară schimbarea polarizării fasciculului laser cauzată de reacţiile chimice. Noua metodă prezintă o sensibilitate mai mare şi un timp de măsurare mai scurt decât testarea imunologică convenţională, ex. testul ELISA. Anticorpii secundari şi terţiari cât şi markerii nu mai sunt necesari. Timpul de incubare este în domeniul secundelor sau minutelor, iar timpul de măsurare actual este 2 sec x 2. Volumul de probă necesar este 1 ml. Testele de cercetare imunologică s-au executat cu succes cu antigene de diferite dimensiuni şi anticorpi IgE.